SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪
SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪基于Phasics专利（专利号CN200780005898）的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪具备以下特点：
1.高分辨率：160
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
4.紧凑：易于集成
应用：
透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir产品参数：
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波长范围 |
0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm） |
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通光孔径 |
9.6 x 7.68 mm2 |
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空间分辨率 |
60 µm |
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采样点（相位/强度） |
160 x 128 (> 19 000 points) |
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相位相对灵敏度 |
<2nm RMS |
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相位精度 |
15nm RMS |
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动态范围 |
100μM |
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采样频率 |
120 fps |
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实时分析频率 |
7 fps (full resolution) |
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数据接口 |
Giga Ethernet |
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尺寸(w x h x l) |
100 x 55 x 63 mm |
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重量 |
455g |
其他波前分析仪：
Phasics SID4-NIR 1.5-1.6μm近红外波前分析仪