点光谱技术：

天行测量的激光平面度快速测量采用先进的点光谱技术，能够实现高精度的取点和扫描，确保每次测量都能达到精确度要求。

多功能测量：

该设备不仅可测量平面度和高度，还可以测量产品的轮廓，为多种测量需求提供一站式解决方案。

广泛应用：

 特别适用于手机行业，如手机中框的平面度和高度测量，以及手机盖板后盖的平面度和弧高测量。

激光平面度快速测量的双激光功能：

独特的双激光设计使其可以同时测量两片产品，将测量效率提高了2倍。

四工位夹具设计：

具有四工位夹具，大大节省了放料时间，提高了工作效率。

激光平面度快速测量的高精度测量：

保证测量精度高达3μ，确保测量结果的可靠性和准确性。