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HIOKI日置3532-50高精度LCR测试仪HIOKI日置3532-50高精度LCR测试仪
HIOKI日置3532-50高精度LCR测试仪
搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位**度自由调整
可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来
3532-50 HIOKI日置3532-50高精度LCR测试仪
2023-04-13 12:57 点击:264
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