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LCL-4A椭圆偏振测厚仪产品介绍

LCL-4A椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到薄和精度高的一类。

LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要实验内容

LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要配置参数