RK-TH-800 1000小时双85高温高湿带电测试
2019-09-02 14:21  点击:968
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1000小时双85高温高湿带电测试

       电容屏的85测试条件是行业严酷的可靠性标准,是欧美等发达市场准 入的高标准。为了充分验证和展示电容屏在经过1000小时“双85老化测试后是否仍具有优异的可靠性和稳定性,近期,瑞凯仪器技术团队专门对应用低阻导电膜生产的电容屏产品进行了100时“双85" 老化测试,验证产品经过1000小时环测后的产品性能。

 

一、测试装备及条件:

1、测试装置:恒温恒湿试验箱(瑞凯仪器RK-TH-800) ;

2、测试条件: 85°C +85%RH;

3、测试时间:持续1000小时

4、测试标准:环测前/后的数据对比差异值

二、测试内容

1、测试产品: 43TP55TP

2、测试数量:4

 环测前/后的数据对比差异值

三、测试结果

1、  电容屏测试前后的基本性能

电容屏测试前后的基本性能


2、  电容屏测试后得的基本性能:

环测前后数值变化
环测前后数值变化在10%以内
环测前后数值对比
环测前后数值对比


1)经过1000小时的“双85" 测试后,电容屏依然保持原有的性能特性,环测前后数值变化在10%以内,1000小时的高温 高湿环测的TP测试功能数据对比和环测前测试功能的数据对比都在要求范围内,证明透明导电膜材料制成的TP可以通过环测1000小时“双85" 项目,性能稳定可靠。