深圳市湾边贸易供应美国Sinton公司BLS-I少子寿命测量仪，欢迎来电咨询！

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Sinton BLS-I少子寿命测量仪

Sinton BLS-I少子寿命测量仪

BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

BLS-I产品规格
寿命值测量范围：100 ns至> 10 ms
电阻率测量范围：0.5-300 Ohm-cm
测量（分析）模式
环境工作温度：20°C-25°C
电源：BLS-I/BCT-400: 40 W
计算机与显示器:200w
光源:60w
尺寸（无手柄）
BLS-I: 7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
BCT-400: 6.1 cm W x 15.0 cm D x 12.7 cm H
通用电压：100-240 VAC 50/60 Hz

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Sinton 少子寿命测量仪套件
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