CJ-JX2000A型：
应用范围：配置透射显微镜，适用于电子、磨料、陶瓷、药品、涂料、水泥、化工、食品、农药、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、硬质合金、催化剂、燃料、炸药、云母粉、耐火材料、填料、石墨、颜料等各种粉末物料，玻璃纤维，矿岩成分判断（偏光）。
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CJ-JX2000B型：
应用范围：配置透反射显微镜，适用于冶金、电子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、医药、金属、非金属矿等各种粉体颗粒的形貌观察和粒度分析；还可用于陶瓷.金属合金等各种不透光的物体表面结构的观察测试。
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产品简介：
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主要性能：光学显微镜放大成像，专业级摄像头，高速高分辨率图像采集卡，图像动态快速显示于电脑，直接观察粉体颗粒的形貌，专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜，大分辨率0.07微米，大光学放大倍数1600倍，图像显示和打印大倍数4000倍(A4幅面)。
测量范围： 0.5μm～2000μm
测量方法： 透射：将样品置于载玻片上，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。
反射：将样品置于物镜下方，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。
分析软件：提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据，配有多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。
图像分析处理：
1.色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
2.图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小、任意比例缩放等；
3.测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；
4.图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
5.图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能；
6.分析参数：
（1）几何参数：每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置，像素；
（2）当量几何参数：等面积圆直径，等周长圆直径，长径，短径，长径比；
（3）外接几何参数：每个颗粒的外接圆直径；
（4）光密度参数：图像 R、G、B、灰度分布；
（5）形态学参数：长径比，圆度系数；
测量结果：颗粒形貌可存盘打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨料、
硅灰石等专用软件。
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处理功能图示：
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图像采集：可调整图像高度、宽度、分辨率等。
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附图：各种粉末颗粒图像（透射）
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附图：各种金相图（反射）：
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图像处理前: 图像处理后:
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