SS-CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪
2018-10-15 17:21  点击:497
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数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号:SS-CH-12.7-STSX

分度值:0.001mm

测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm

适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(大测量深度为80mm)

GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979