• 单色光扫描系统和固定式多色光劳厄分析系统

• 用于单晶材料、硅圆、晶锭、涡轮叶片和太阳能光板等的定向分析和检测

• 可集成到产线和质量控制流程

可选型号：

• XRD Galaxy SCL

采用固定式劳厄分析方法

用于确定硅圆、晶锭、涡轮叶片的取向

可进行点分析或者表面扫描检测

通过显微镜镜头和激光进行样品调整

• XRD Galaxy SC

采用衍射的方法扫描分析样品的取向

可用于确定硅圆、晶锭、涡轮叶片的取向

可进行点分析或者表面扫描检测

通过显微镜镜头和激光进行样品调整