——具有模块交换功能的小型应变片式测头
|
TP200触发式三坐标测头系统组件包括：
• TP200或TP200B测头本体（TP200B为另一款，允许更大振动公差） TP200三坐标测头系统特性与优点
• 应变片技术具有无可比拟的重复性和的三维轮廓测量 |
 |
|
TP200 / TP200B测头本体
TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。 |
|
Renishaw TP200三坐标测头技术规格:
| 摘要 | TP200 | TP200B |
| 主要应用 | 需要的数控坐标测量机。 | 与TP200一样，但当出现误触发事件时。 |
| 传感器方向 | 六轴：±X、±Y、±Z | 六轴：±X、±Y、±Z |
| 单向重复性 (2s µm) | 触发水平1：0.40 µm | 触发水平1：0.40 µm |
|
|
触发水平2：0.50 µm | 触发水平2：0.50 µm |
| XY（2D）轮廓形式测量偏差 | 触发水平1：±0.80 µm | 触发水平1：±1 µm |
|
|
触发水平2：±0.90 µm | 触发水平2：±1.2 µm |
| XYZ (3D) 轮廓测量偏差 | 触发水平1：±1 µm | 触发水平1：±2.50 µm |
|
|
触发水平2：±1.40 µm | 触发水平2：±4 µm |
| 测针交换的重复性 | SCR200：±0.50 µm（zui大） | SCR200：±0.50 µm（zui大） |
|
|
手动：±1 µm（zui大） | 手动：±1 µm（zui大） |
| 测力（测尖） | XY平面（所有模块）：0.02 N | XY平面（所有模块）：0.02 N |
|
|
Z轴（所有模块）：0.07 N | Z轴（所有模块）：0.07 N |
| 超程测力（位移为0.50 mm时） | XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N | XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N |
|
|
XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N | XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N |
|
|
Z轴（SF/EO模块）：4.90 N | Z轴（SF/EO模块）：4.90 N |
|
|
Z轴（LF模块）：1.60 N | Z轴（LF模块）：1.60 N |
| 重量（测头传感器和模块） | 22 g | 22 g |
| 长加长杆（如配在PH10系列测座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推荐的zui大测针长度（M2测针系列） | SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF | SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF |
|
|
LF模块：20 mm钢质至50 mm GF | LF模块：20 mm钢质至50 mm GF |
| 安装方式 | M8螺纹 | M8螺纹 |
| 适合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
| 测针模块交换架 | 自动：SCR200 | 自动：SCR200 |
|
|
手动：MSR1 | 手动：MSR1 |
| 测针系列 | M2 | M2 |
TP200测针模块：
测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上，具有快速测针交换功能和测头超程保护功能。
有三种测针模块可供选择，具有两种不同的超程测力。
| 模块 | SF（标准测力） | LF（低测力） | EO（长超程） |
| 应用 | 一般使用。 | 小直径测球或必须使用zui小测力的场合。 | 额外超程使坐标测量机在较高的碰触速度下安全停止并回退。 |
| 备注 | 测针长可达100 mm，测球直径 > 1 mm。 | 测球直径小于1 mm。 |
与SF的超程测力相同。 测头Z轴的额外超程为8 mm。 |
雷尼绍SCR200测头交换架：
|
SCR200可对至多六个TP200测针模块进行自动高速交换。SCR200由的测头接口 — PI200供电，并可确保安全的测针交换。SCR200套件可包含低测力和标准测力组件，每一种套件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。 SCR200交换架规格：高度：190mm； 宽度：245mm。 |
|
测针模块交换：
|
TP20和TP200测头具有测针模块交换功能，生产效率更高，并且总能选择适合应用的测量系统。
|
|