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智能化介质损耗测试仪/介质损耗测试仪 型号:HAD-SB2204/3
tgδ范围
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电容量范围(Cx)
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试品类型
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基本误差
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介质损
耗因数
tgδ
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0~0.5
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50pF~60000pF
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非接地
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±(1%读数+0.0005)
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接地
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±(1%读数+0.0010)
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10pF~50pF或
60000pF以上
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非接地
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±(1%读数+0.0010)
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接地
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±(2%读数+0.002)
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3pF~10pF
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非接地
与接地
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电容量
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50pF以上
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±(1%读数+1pF)
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50pF以下
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±(1%读数+2pF)
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作原理
仪器测量线路包括路标准回路和路被试回路,标准回路由内置稳定度标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由HAD-8031单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以计的采样数据处理后行矢量运算,分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值(Cx)和介质损耗角正切(tgδ),测量结果。现场有干扰时,利用移相、倒相法减小干扰的影响,再将被试回路测`得的电流Ix′与单测得的干扰电流Id矢量相加,得到真正的测量电流Ix,而得出正确的测量结果。由图3可见,可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品(正接法)时,“LV”(E)点接地;而测量接地试品(反接法)时,则“HV”点接地。
仪器测量线路包括路标准回路和路被试回路,标准回路由内置稳定度标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由HAD-8031单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以计的采样数据处理后行矢量运算,分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值(Cx)和介质损耗角正切(tgδ),测量结果。现场有干扰时,利用移相、倒相法减小干扰的影响,再将被试回路测`得的电流Ix′与单测得的干扰电流Id矢量相加,得到真正的测量电流Ix,而得出正确的测量结果。由图3可见,可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品(正接法)时,“LV”(E)点接地;而测量接地试品(反接法)时,则“HV”点接地。