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  该设备通过石英晶体的检测频率和耗散，可以有效的分析芯片表面吸附的分子层状态、质量、厚度和粘弹性等性质。检测过程中无须对检测分子进行标记，适用于任何能形成薄膜的表面，如金属、高分子、化学改性表面等。石英晶体微天平在生物、医学和表面科学等研究领域被广泛应用。

 

仪器名称	石英晶体微天平
仪器型号	E4
生产厂家	英国Biolin公司
技术参数	可检测粒径检测范围：0.6 nm- 10µm； 测量浓度范围：0.1 ppm； 具备四个样品检测池； 度可达0.5 ng/cm2。

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